4200-SCS

作品数:41被引量:1H指数:1
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相关机构:吉时利仪器公司东北师范大学中国电子科技集团第十三研究所中国科学院更多>>
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吉时利4200-SCS半导体特征分析系统升级被引量:1
《通用机械》2008年第8期78-78,共1页
2008年7月29日发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI(吉时利交互式测试环境)V7.1版。经过此次软件升级之后,KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样,4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分...
关键词:4200-SCS 功率半导体器件 吉时利 特征 系统 测试环境 软件升级 交互式 
吉时利集成最新C-V模块及软件,4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试
《通用机械》2008年第1期81-81,共1页
2007年10月22日吉时利宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中,能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(n...
关键词:测量模块 吉时利 SCS系统 脉冲测试 4200-SCS 半导体特性分析系统 软件 集成 
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