IDDQ测试

作品数:22被引量:17H指数:2
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相关机构:清华大学中国航天科技集团公司五院511所北京中电华大电子设计有限责任公司北京大学更多>>
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CMOS电路I_(DDQ)测试电路设计被引量:1
《现代电子技术》2011年第16期131-132,136,共3页江耀曦 邵建龙 杨晓明 何春 
云南省教育科学规划课题(GG09017);昆明理工大学教学质量与教学改革工程重点项目(10968047)
针对CMOS集成电路的故障检测,提出了一种简单的IDDQ静态电流测试方法,并对测试电路进行了设计。所设计的IDDQ电流测试电路对CMOS被测电路进行检测,通过观察测试电路输出的高低电平可知被测电路是否存在物理缺陷。测试电路的核心是电流...
关键词:IDDQ测试 测试方法 电流检测 CMOS电路 
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