IEEE754标准

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浮点乘法验证中的一种边界点测试方法
《复旦学报（自然科学版）》2008年第1期45-49,共5页周汇 俞军 程君侠 华霞 
针对常用的随机测试生成方法的弱点,提出一种用于IEEE浮点乘法验证的边界条件筛选测试生成方法.其基本思路为:对待测算法边界条件建模;求解边界条件;用求得的解构造筛选操作数的标准;筛选操作数实现测试.应用该方法于典型芯片Intel387S...
关键词：浮点运算 IEEE754标准 修正模式 随机测试 边界筛选 
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