LDD结构

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热载流子退化对集成电路可靠性的影响及应对
《玉林师范学院学报》2004年第3期39-42,共4页刘峰 梁勇强 
分析了热载流子退化现象对集成电路可靠性的影响,研究了改善热载流子退化的计算机工艺模拟技术、按比例缩小的准恒定电压理论、LDD结构MOS晶体管。
关键词：热载流子 可靠性 LDD结构 
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