云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- MEMORY

MEMORY: 作品数：1598被引量：1522H指数：14; 导出分析报告; 相关领域：自动化与计算机技术更多>>; 相关作者：张春才许硕贵齐煜王秋根康庆林更多>>; 相关机构：中国科学院国防科学技术大学东南大学复旦大学更多>>; 相关期刊：更多>>; 相关基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家高技术研究发展计划中国博士后科学基金更多>>

-

在结果中检索

检索结果分析

结果分析中...

选择条件：

主题=CMOS

共条记录，以下是1-2

全选清除导出

参考文献引证文献引用追踪

视图：

排序：

Enabling Variability-Aware Design-Technology Co-Optimization for Advanced Memory Technologies: 《Journal of Microelectronic Manufacturing》2020年第4期69-81,共13页Salvatore MAmoroso Plamen Asenov Jaehyun Lee Nara Kim Ko-Hsin Lee Yaohua Tan Yong-Seog Oh Lee Smith Xi-Wei Lin Victor Moroz; This paper presents a TCAD-based methodology to enable Design-Technology Co-Optimization(DTCO)of advanced semiconductor memories.After reviewing the DTCO approach to semiconductor devices scaling,we introduce a multi-...; 关键词：DTCO Statistical Variability Process Variability Semiconductor Memories DRAM CMOS Scaling.

BIOS英语短句知多少?: 《计算机与网络》2004年第18期10-10,共1页; 1.CMOS battery failed 中文:CMOS电池失效。解释:这说明CMOS电池已经快没电了,只要更换新的电池即可。 2.Memory test; 关键词：BIOS 英语短句 “CMOS BATTERY failed” “Memory test fail”

全选清除导出

共1页<1>

检索报告对象比较聚类工具使用帮助返回顶部