测试矢量

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自动测试及其系统
《电子科技文摘》2000年第6期87-89,共3页
Y2000-62046-397 0010039机内自测方法(含3篇文章)=Session 17:BIST relatedapproaches[会,英]//1999 17th IEEE VLSI Test Sym-posium.—397～418(AC)本部分共有3篇文章,篇名为:TAO-BIST:机内自测(BIST)寄存器传输级(RTL)电路可测试性...
关键词：自动测试 分析与优化 寄存器传输级 可测试性 测试矢量 自测方法 仪器仪表 现场可编程 低能量 计算机自动测量 
其它计算机理论与技术
《电子科技文摘》1999年第11期109-111,共3页
本文介绍了一种检测数字电路中多重故障用的基于人工神经网络(ANN)的技术。该技术使用不同数量的由故障真值表中产生的随机选择的电路数据。真值表通过在电路中插入随机单个固定型故障而构成。文中描述了采用该技术的诊断流程和 ANN 结...
关键词：模糊神经网络模型 理论与技术 人工神经网络 真值表 计算机 测试数据选择 测试结果 数字电路 测试矢量 固定型故障 
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