超深亚微米器件

作品数:4被引量:11H指数:2
导出分析报告
相关领域:电子电信更多>>
相关作者:陈松涛何宝平黄绍燕姚志斌丁李利更多>>
相关机构:北京大学西安电子科技大学西北核技术研究所中国科学院大学更多>>
相关期刊:《固体电子学研究与进展》《中国原子能科学研究院年报》《电子质量》《物理学报》更多>>
相关基金:国家重点基础研究发展计划更多>>
-

检索结果分析

结果分析中...
选择条件:
  • 期刊=固体电子学研究与进展x
条 记 录,以下是1-1
视图:
排序:
基于BSIM3的超深亚微米器件建模及模型参数提取被引量:4
《固体电子学研究与进展》2003年第4期406-411,共6页陈松涛 刘晓彦 杜刚 韩汝琦 
对适用于超深亚微米电路模拟的 MOSFET器件模型进行了研究 ,完成计入量子效应、多晶硅耗尽效应等基于 BSIM3的 MOSFET模型。针对阈值电压模型以及 I- V模型中的参数编写了模型参数提取程序 ,采用最小二乘法原理 ,并采用麦夸脱算法以降...
关键词:BSIM3 超深亚微米器件 器件模型 参数提取 微电子技术 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部