C-V测试

作品数：16被引量：16H指数：3
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相关作者：文译张秀兰徐嘉东李建明孙玉华更多>>
相关机构：中国科学院西安交通大学复旦大学电子科技大学更多>>
相关期刊：《半导体技术》《固体电子学研究与进展》《Journal of Semiconductors》《中国测试》更多>>
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文译
电子科技大学
张秀兰
中国科学院半导体研...
徐嘉东
中国科学院半导体研...
李建明
中国科学院半导体研...
孙玉华
中国科学院苏州纳米...
鞠涛
中国科学院苏州纳米...
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