张田田

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前端放大电路阵列测量系统的研制
《核电子学与探测技术》2003年第1期69-71,96,共4页张田田 李元景 王汝赡 刘云鹏 贺恋平 
介绍了用于检测集装箱检查系统前端放大电路阵列性能指标的测试系统。该系统实现了对前端放大电路阵列的积分非线性、一致性和稳定性等指标的自动测试分析以及分析结果的回显和保存,达到了在应用现场及时准确测量其性能指标的目的。
关键词：前端电放大路阵列 测试系统 数据采集系统 噪声 
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