董国全

作品数:1被引量:4H指数:1
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GaAs抛光表面损伤的RBS研究被引量:4
《稀有金属》1998年第4期317-320,共4页董国全 万群 陈坚邦 
本文以卢瑟福离子背散射技术(RBS)检测了半绝缘GaAs(100)化学机械抛光表面的微损伤状况,并以α台阶仪测量了抛光表面的粗糙度。研究了以胶体SiO2和NaOCl溶液的混合液对GaAs进行化学机械抛光方法中主要工艺...
关键词:抛光 砷化镓 晶片表面 表面损伤 卢瑟福背散射 
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