云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- 卢瑟福背散射

卢瑟福背散射: 作品数：59被引量：66H指数：4; 导出分析报告; 相关领域：理学电子电信更多>>; 相关作者：孟祥艳王雪蓉刘运传刘向东周燕萍更多>>; 相关机构：北京大学中国科学院复旦大学四川大学更多>>; 相关期刊：《微细加工技术》《南华大学学报（自然科学版）》《原子核物理评论》《功能材料》更多>>; 相关基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金国防基础科研计划国家重点基础研究发展计划更多>>

卢瑟福散射虚拟仿真实验设计与教学实践被引量：2: 《实验科学与技术》2024年第1期68-75,共8页田立朝张湘姜静杨晓虎吕中良赵子甲; 湖南省自然科学基金(2021JJ30772)。; 卢瑟福散射实验是核物理学发展史中的经典实验之一。基于实验放射源使用安全的考虑,国内外高校多以理论讲授为主,少有实验教学,限制了学生对原子核微观结构及射线与物质的微观相互作用的深入理解。针对以上问题,开发了基于Unity3D的卢...; 关键词：卢瑟福散射卢瑟福背散射虚拟仿真实验实验教学

RBS法测量重元素衬底上轻元素薄靶厚度的方法研究: 《原子能科学技术》2021年第2期348-352,共5页吴笛仇猛淋王乃彦郭冰贺创业王广甫樊启文党永乐刘伏龙付光永杨婉莎魏继红; 国家自然科学基金资助项目(11975316,11490560);国家重点研发计划资助项目(2016YFA0400502);国家财政部稳定支持研究经费资助项目(WDJC-2019-02)。; 在核反应实验中,靶厚的精度往往会直接影响实验结果的可靠性。为精确测量重元素衬底上轻元素薄靶的厚度,本文通过卢瑟福背散射(RBS)法,使用能量1.5 MeV的质子束对蒸镀在300μm厚181 Ta衬底上薄74 Ge靶的厚度进行了测量。RBS法测量结果...; 关键词：卢瑟福背散射薄靶厚度金硅面垒探测器

真空中固液界面的离子束分析研究: 《原子核物理评论》2020年第1期82-87,共6页李晓月余涛毛光博郭金龙李亚宁张海磊吴汝群刘文静赵靖沈程沈皓杜广华; 国家自然科学基金资助项目(11975283,U1632271)。; 原位实时地高精度测量固液界面的元素或离子(电荷)组成和动态变化对于界面反应和相互作用研究非常重要,但是传统的高分辨离子束分析实验在真空环境中不能直接测量液体样品。本文研制了一种固体-液体界面探针,该探针使用氮化硅-铝纳米复...; 关键词：固液界面离子束分析卢瑟福背散射粒子激发X射线微束分析

卢瑟福背散射分析元素浓度深度分布的计算方法研究被引量：2: 《实验科学与技术》2019年第5期102-107,124,共7页陈秀莲张洁覃雪刘军; 卢瑟福背散射实验可通过背散射粒子的能谱分析材料中杂质元素浓度及深度分布,其中,获取深度分布的计算方法主要包括近似计算法(表面能量近似和平均能量近似)与数值积分法,计算过程涉及的阻止本领由SRIM程序给出。该文对计算难度小、准...; 关键词：卢瑟福背散射实验表面能量近似平均能量近似数值积分

一种兆伏级低能加速器端电压的校准方法: 《核技术》2018年第10期14-19,共6页王泽松张瑞田灿鑫王振国付德君; 深圳科技创新委员会基础研究项目(No.JCYJ20170818112901473);岭南师范学院自然科学研究项目(No.LZL1809)资助~~; 受设备使用年限、工作环境和零部件更换等因素影响,兆伏(MV)级低能加速器端电压需要通过较准保证经端电压加速决定的出射离子的能量。本方案以2×1.7 MV串列加速器为例,利用12C(p, p)12C材料非卢瑟福背散射谱在1 750 keV能量点附近出现...; 关键词：加速器端电压非卢瑟福背散射能量校准

固体乏燃料表面的卢瑟福背散射模拟研究: 《南华大学学报（自然科学版）》2018年第3期32-37,共6页刘祖光李新霞孙向上; 湖南省大学生创新性实验资助项目(2015-239);南华大学研究生教研教改课题项目(2017JG015); 为了研究固体乏燃料表面核素的种类、含量以及厚度对卢瑟福背散射能谱的影响,通过SIMNRA软件模拟背散射能谱,研究了I、Pm、U等典型核素及核素含量、靶材厚度对背散射能谱的影响.结果表明,不同核素对应不同的能量峰,核素的元素质量数越大...; 关键词：卢瑟福背散射分析 SIMNRA模拟固体乏燃料

Ni(W)Si/Si肖特基势垒二极管电学特性研究: 《电子与封装》2017年第6期41-44,共4页石青宏刘瑞庆黄伟; 首次提出在Ni中掺入夹层W的方法来提高NiSi的热稳定性。具有此结构的薄膜,经600~800℃快速热退火后,薄层电阻保持较低值,小于2Ω/。经Raman光谱分析表明,薄膜中只存在NiSi相,而没有NiSi2生成。Ni(W)Si的薄层电阻由低阻转变为高阻的温度...; 关键词：Ni(W)Si 热稳定性肖特基势垒二极管 XRD RAMAN光谱卢瑟福背散射快速热退火(RTA)

精确测定In_xGa_(1-x)N晶体薄膜中铟含量的卢瑟福背散射法研究被引量：1: 《中国测试》2017年第3期15-18,57,共5页王雪蓉刘运传孟祥艳周燕萍王康王倩倩; 国防基础科研项目(J092009A001); 采用金属有机化合物气相淀积法(MOCVD)在蓝宝石上生长InxGa1-xN/Ga N晶体薄膜,Ga N缓冲层的厚度为2.5μm,InxGa1-xN晶体薄膜的厚度大约800 nm,通过光致发光光谱仪测量样品发光峰的峰值,确定铟镓氮晶体薄膜中铟分布的均匀性,取样品均匀...; 关键词：氮铟镓金属有机化合物气相淀积法卢瑟福背散射测量不确定度

Study of doping uniformity of a 200 kV ion implanter by RBS and sheet resistance measurements: 《Nuclear Science and Techniques》2016年第3期40-44,共5页Hui Li Ze-Song Wang Sheng-Jun Zhang Vasiliy O.Pelenovich Feng Ren De-Jun Fu Chuan-Sheng Liu Zhi-Wei Ai; supported by the National Natural Science Foundation of China(Nos.11405117 and 11205116);International Cooperation Program of the Ministry of Science and Technology of China(No.2015DFR00720); The ion implantation uniformity is of vital importance for an ion implanter.In this paper,we report the,uniformity measurement for a large current ion implanter(LC-16 type) by implanting of 190-keV Ar ions into Si to ...; 关键词：均匀性测量离子注入机薄层电阻掺杂分布 RBS 卢瑟福背散射离子注入系统剂量评价

采用光致发光法和卢瑟福背散射法测定AIxGa1-xN薄膜中的Al元素含量及斯托克斯移动研究: 《计量技术》2014年第11期3-6,11,共5页王雪蓉刘运传孟祥艳周燕萍王康; 国防基础科研计划项目（J092009A001）资助课题; 采用深紫外光致发光技术测量AIxGa1-xN半导体薄膜的禁带宽度，结合软件模拟计算AIxGa1-xN薄膜的弯曲因子b，测定了AIxGa1-xN薄膜中的Al元素含量，同时采用卢瑟福背散射技术测定AIxGa1-xN薄膜中的Al元素含量。结果显示，AIxGa1-xN薄膜的...; 关键词：光谱学铝含量弯曲因子斯托克斯移动光致发光卢瑟福背散射AIxGa1-xN薄膜

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