张晓宽

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GIS耐压试验中电晕损耗对品质因数的影响
《河北电力技术》2011年第1期46-48,共3页赵峻峰 吴灏 王炜 张晓宽 
分析不同试验回路中品质因数及高压导线电晕损耗的影响因素,通过耐压试验实例阐述电晕损耗与品质因数的关系,提出减小高压导线电晕损耗以增大品质因数的建议。
关键词：GIS 耐压试验 电晕损耗 品质因数 
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