王庆学

作品数:1被引量:4H指数:1
导出分析报告
供职机构:中国科学院上海技术物理研究所更多>>
发文主题:AL含量ALGAN密度研究位错衍射更多>>
发文领域:电子电信理学更多>>
发文期刊:《激光与红外》更多>>
-

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
条 记 录,以下是1-1
视图:
排序:
高Al含量AlGaN多层外延材料的应变与位错密度研究被引量:4
《激光与红外》2005年第11期880-882,共3页游达 王庆学 汤英文 龚海梅 
文中利用X射线三轴衍射测试手段对高A l(x≥0.45)含量p-i-n结构的A lxGa1-xN外延材料进行测试,并结合倒易空间图(RSM)和PV函数法对A lxGa1-xN外延材料进行评价。首先通过对RSM的定性分析,给出多层外延材料中不同A l组分A lxGa1-xN材料...
关键词:ALGAN 倒易空间图 应变 PV函数 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部