刘漪

作品数：1被引量：0H指数：0
导出分析报告
供职机构：北京轻工业学院更多>>
发文主题：X光电子能谱氮氧化铝膜层更多>>
发文领域：理学更多>>
发文期刊：更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-1
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
X光激发氮氧化铝膜层电子特征能量探测与分析
《工科物理》1999年第4期31-33,共3页刘漪 陈萦 刘芬 
本文报告了用Ｘ光电子能谱法（ＸＰＳ）对氮氧化铝／铁膜内层电子特征能量的探测与分析，获得了膜层中不同深度的元素成分及化学结构．结果表明：ＸＰＳ方法是研究氮氧化铝选择性吸收膜的有效方法．
关键词：X光电子能谱 氮氧化铝 特征能量 薄膜 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部