蔺冰

作品数：1被引量：1H指数：1
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供职机构：北京大学更多>>
发文主题：杨氏模量AL组分XGA力学性质塑性形变更多>>
发文领域：理学一般工业技术更多>>
发文期刊：《Journal of Semiconductors》更多>>
所获基金：北京市自然科学基金高等学校科技创新工程重大项目国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
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高Al组分Al_xGa_(1-x)N薄膜的弹性-塑性力学性质被引量：1
《Journal of Semiconductors》2007年第10期1551-1554,共4页许福军 沈波 王茂俊 许谏 苗振林 杨志坚 秦志新 张国义 蔺冰 白树林 
国家自然科学基金(批准号:60325413;60628402);国家重点基础研究发展计划(批准号:2006CB604908;2006CB921607);教育部科技创新工程重大项目培育基金(批准号:705002);北京市自然科学基金(批准号:4062017)资助项目~~
采用纳米压痕方法,研究了AlN/spphire模板上的高Al组分AlxGa1-xN薄膜的力学性质,特别是弹性-塑性转变行为.研究表明,AlxGa1-xN薄膜的杨氏模量E随着Al组分的增加而增大,薄膜中产生塑性形变所必要的剪切应力也随着Al组分的增加而增大.在Al...
关键词：AlxGa1-xN薄膜 杨氏模量 力学性质 塑性形变 
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