陶志勇

作品数：3被引量：16H指数：2
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供职机构：合肥工业大学更多>>
发文主题：NBTI效应识别方法NBTI超大规模集成电路可靠性更多>>
发文领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
发文期刊：《电路与系统学报》《应用科学学报》《电子测量与仪器学报》更多>>
所获基金：国家自然科学基金江苏省“青蓝工程”基金国家教育部博士点基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
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一种缓解NBTI效应引起电路老化的门替换方法被引量：12
《电子测量与仪器学报》2013年第11期1011-1017,共7页梁华国 陶志勇 李扬 
国家自然科学基金(61274036;61106037;61106038);国家教育部博士点基金(20110111120012);安徽省高校自然科学研究重点项目(KJ2010A280);江苏省高校"青蓝工程"项目(2010121312)
45 nm工艺下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应是限制电路的性能的首要因素。为了缓解NBTI效应引起的电路老化,提出了1个基于门替换方法的设计流程框架和门替换算法。首先利用已有的电路老化分析框...
关键词：负偏置温度不稳定性 门替换 电路老化 
应用输入向量约束的门替换方法缓解电路老化被引量：3
《应用科学学报》2013年第5期537-543,共7页李扬 梁华国 陶志勇 
国家自然科学基金(No.61274036;No.61371025;No.61300212;No.61306049);教育部博士点基金(No.20110111120012);江苏省高校"青蓝工程"项目基金(No.2010121312)资助
为缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应引起的电路老化,提高电路可靠性,提出一种在电路待机状态下应用输入向量约束的门替换方法.运用动态和静态的NBTI模型进行感知NBTI的静态时序分析,确定潜在关...
关键词：电路老化 NBTI 输入向量 门替换 
电路老化中考虑路径相关性的关键门识别方法被引量：3
《电路与系统学报》2013年第2期123-128,共6页李扬 梁华国 陶志勇 李鑫 易茂祥 徐辉 
国家自然科学基金项目(61274036;61106037;61106038);安徽省高校自然科学研究重点项目(KJ2010A280);江苏省高校"青蓝工程"资助项目
65nm及以下工艺,负偏置温度不稳定性(NBTI)是限制电路生命周期,导致电路老化甚至失效的最主要因素。本文提出了基于NBTI的时序分析框架,在确定电路中老化敏感的潜在关键路径集合的基础上,通过考虑路径相关性确定老化敏感的关键门。本方...
关键词：负偏置温度不稳定性 老化 潜在关键路径集合 路径相关性 关键门 
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