张世英

作品数：1被引量：1H指数：1
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半导体激光器加速寿命测试系统研制被引量：1
《激光技术》2004年第3期228-230,254,共4页亢俊健 张世英 苏美开 王大成 
介绍了半导体激光器 (LD)加速寿命测试的理论依据 ,给出了寿命测试的数学模型 ,并据此研制了新型LD寿命测试系统。该系统在密封抽真空充氮环境下 ,通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息及所处环境的温度 ,绘制出LD的老化曲线 ...
关键词：激光与光电子学 半导体激光器 加速寿命测试 Arrhenius模型 
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