万杰

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供职机构:北京航空航天大学材料科学与工程学院更多>>
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基于AVR单片机的介电性能数值测试系统
《物理测试》2007年第6期27-30,共4页顾广耀 万杰 王振清 
基于AVR单片机,设计了介电数值测试系统,试验过程实现了计算机数字化采集,精度高,安全可靠。
关键词:AVR单片机 信号发生器 乘法器 UART 
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