高星

作品数:1被引量:1H指数:1
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供职机构:中国科学院上海应用物理研究所更多>>
发文主题:X射线吸收精细结构XRRXAFSTI掠入射更多>>
发文领域:理学机械工程更多>>
发文期刊:《核技术》更多>>
所获基金:中国科学院知识创新工程国家自然科学基金更多>>
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用掠入射XAFS方法研究Ti/Ni/Ti纳米薄膜的界面结构被引量:1
《核技术》2011年第7期489-493,共5页于海生 黄宇营 魏向军 姜政 王建强 顾颂琦 张硕 高星 
中国科学院知识创新项目(KJCX2-YW-N43);上海市科委重点基金(09JC1417100);中科院上海应用物理所领域前沿项目(54O95501A);国家自然科学基金青年基金(10705046)资助
在上海光源BL14W1线站建立了掠入射XAFS(GI-XAFS)方法,利用GI-XAFS方法并结合X射线反射(XRR)研究了直流磁控溅射方法生长在W/Si基底上的Ti/Ni/Ti纳米薄膜的界面结构随Ni层厚度的变化。结果表明,随着薄膜厚度的增加,Ni/Ti界面层间的相互...
关键词:掠入射 X射线吸收精细结构(XAFS) Ti/Ni/Ti薄膜 X射线反射(XRR) 
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