陈亚坤

作品数：1被引量：1H指数：1
导出分析报告
供职机构：电子科技大学更多>>
发文主题：测试电路FPGA基于FPGAMARCHC-更多>>
发文领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
发文期刊：更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-1
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
基于FPGA测试电路的SRAM自测试研究被引量：1
《单片机与嵌入式系统应用》2012年第1期8-11,共4页陈亚坤 
SRAM是微机系统中的记忆设备,用来存放程序和数据。因此对SRAM的自测试可以有效地避免存储器工作不正常给系统带来的损害。采用硬件描述语言对FPGA电路进行编程,构造SRAM测试电路。以对各种存储器常见故障模型能够有效检测的March C-算...
关键词：SRAM自测试 故障模型 FPGA MARCH C-算法 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部