李萍

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50例微波器件失效分析结果汇总与分析
《固体电子学研究与进展》2005年第4期475-480,共6页来萍 李萍 张晓明 李少平 徐爱斌 施明哲 牛付林 郑廷珪 
对约50例微波器件失效分析结果进行了汇总和分析,阐述了微波器件在使用中失效的主要原因、分类及其分布。汇总情况表明,由于器件本身质量和可靠性导致的失效约占80%,其余20%是使用不当造成的。在器件本身的质量和可靠性问题方面,具体失...
关键词：微波器件 失效分析 汇总分析 
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