检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:赵鸿燕[1] 鲁正雄[1] 赵岚[1] 成彩晶[1]
出 处:《红外技术》2005年第3期260-262,共3页Infrared Technology
摘 要:碲镉汞器件性能与材料及诸多工艺因素相关,而材料与电极间的接触性能是必须要解决的基础问题之一。利用金属In/Au在光伏长波碲镉汞材料上做了接触性能研究,通过实验获得了较理想的欧姆接触,测试后计算出In与n型和p型HgCdTe材料间的接触电阻率分别为3.25×10-4?·cm2、8.95×10-4?·cm2。Performance of HgCdTe devices is limited by many factors shch as materials and technics,etc.Andthe electrical characteristics of electrode contacts on HgCdTe plays important roles.It is one of basal issue thatmust be solved. We do the research by using In/Au as contact on LW photovoltaic HgCdTe and achieve anideal ohmic contact. Measurements of specific contact resistance have shown that In/n-type HgCdTe andIn/p-type HgCdTe gave values of ρc=3.25×10-4?·cm2 to 8.95×10-4 ?·cm2.
关 键 词:碲镉汞材料 欧姆接触 光伏 长波 HGCDTE材料 接触电阻率 工艺因素 器件性能 基础问题 接触性能 性能研究 P型 In
分 类 号:TN215[电子电信—物理电子学] TN305.93
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.36