检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:戴永红
出 处:《微电子学》1995年第4期52-56,共5页Microelectronics
摘 要:随着集成电路的制造向着高可靠和微细化方向发展,能低温生长优质薄膜的等离子增强化学汽相淀积(PECVD)工艺越来越受到重视。它不仅能满足硅集成电路亚微米级线宽工艺的要求,而且能满足其它电子产品薄膜淀积的要求。本文着重介绍国外一些先进的PECVD装置系统。
关 键 词:PECVD IC工艺 等离子 增强 化学汽相淀积 刻蚀
分 类 号:TN405.98[电子电信—微电子学与固体电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.51