SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法  

SCANGIN:An Approach for Reducing Dynamic Power Dissipation in Scan Test

作　　者：李佳[1] 胡瑜[1] 李晓维[1] 王伟[1] 

机构地区：[1]中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室

出　　处：《计算机辅助设计与图形学学报》2006年第9期1391-1396,共6页Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics

基　　金：国家重点基础研究发展规划项目(2005CB321604);国家自然科学基金(90207002);中国科学院计算技术研究所基金(20056330;20056600-16)

摘　　要：通过调整扫描链上扫描单元顺序与逻辑门插入相结合,以减少扫描移入阶段扫描链上不必要的状态跳变,从而达到降低测试中电路动态功耗的目的.在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明,该方法最多能将扫描移入阶段峰值功耗降低94.5%,平均功耗降低93.8%,而面积开销可以忽略不计.This paper proposes an approach to eliminate unnecessary transitions on scan chains during scan-in phase. By using scan cells reordering in combination with logic gate insertion, it reduces scan-in power dissipation. Experimental results on ISCAS＇89 benchmark circuits show that the proposed approach can reduce peak power dissipation by 94.5 % during scan test and average power by 93.8 %, with ignorable area overhead.

关 键 词：可测试性设计 动态功耗 扫描链 

分 类 号：TP391.72[自动化与计算机技术—计算机应用技术]