一个检测半导体激光器质量的有效方法  

Effective Method of Evaluation of Semiconductor Laser Quality

作　　者：石家纬[1] 金恩顺[1] 李红岩[1] 李正庭[1] 郭树旭[1] 高鼎三[1] 余金中[1] 郭良[1] 

机构地区：[1]吉林大学电子工程系集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验区,中国科学院半导体研究所

出　　处：《Journal of Semiconductors》1996年第8期595-600,共6页半导体学报（英文版）

摘　　要：对一百支ＰＢＣ结构的ＩｎＧａＡｓＰ／ＩｎＰ激光器的检测表明，通过变温的电导数及热阻测试给出的参数及参数随温度的变化可对半导体激光器有效地进行质量评价和可靠性筛选．Abstract The measurements of one hundred PBC structure InGaAsP/InP Lasers demonstrate that the parameters given by the electronic derivate of varied temperature and thermal resistence and the variation of the parameters with temperature can be used to appraisethe quality and reliability of semiconductor laser effectually.

关 键 词：半导体激光器 质量检测 INGAASP INP 激光器 

分 类 号：TN248.4[电子电信—物理电子学]