科利登D-6432DFT满足高数据速率需求  

出　　处：《世界电子元器件》2007年第8期73-73,共1页Global Electronics China

摘　　要：科利登系统公司推出解决方案SQpphire D-6432DFT，用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。D-6432DFT是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描／功能性测试和DC参数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计（DFT）方法，助其显著降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时问。

关 键 词：高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试 

分 类 号：TN92[电子电信—通信与信息系统]