双极晶体管h_(FE)低温失效分析及使用可靠性  

作　　者：李志国[1] 程尧海[1] 孙英华[1] 郭伟玲[1] 李学信[1] 李志勇[2] 戴慈庄[2] 

机构地区：[1]北京工业大学 [2]北京航空航天大学

出　　处：《半导体技术》1997年第4期50-52,共3页Semiconductor Technology

摘　　要：论述了影响双极晶体管电流增益ｈＦＥ低温下降的重掺杂效应，结合具体器件测试计算出了ｈＦＥ的低温下降值，并对实测值与计算值的差异进行了分析。最后指出了改进ｈＦＥ温度特性的具体途径。

关 键 词：电流增益 低温失效 可靠性 双极晶体管 

分 类 号：TN322.806[电子电信—物理电子学]