酥性饼干基于温度变化的氧化货架寿命预测  

Oxidation Shelf Life Prediction of Cookies Based on Temperature Changing

作　　者：徐芳 卢立新 许文才[2] 

机构地区：[1]江南大学国家轻工业包装制品质量监督检测中心,无锡214122 [2]北京印刷学院,北京100000

出　　处：《包装工程》2008年第7期4-5,28,共3页Packaging Engineering

基　　金：印刷包装材料与技术北京市重点实验室开放基金项目(KF200704)

摘　　要：通过设定不同温度对酥性饼干这类油脂含量较高的食品进行加速氧化试验,测定不同温度下的过氧化值,以其氧化时间和对应的过氧化值的对数值进行回归拟合,获得产品氧化一级动力学方程,应用Arrhenius公式预测产品在任一温度下的货架寿命。Peroxide value （ POV ） was measured by means of oxidation accelerated test on cookies which is one kind of high - fat food at different temperatures. The relation of oxidation time and logarithm of POV was fitted, and the oxidation kinetic equation was calculated. Arrhenius equation was used to predict the shelf life of cookies at any temperatures.

关 键 词：饼干 氧化 ARRHENIUS 货架寿命 

分 类 号：TS312.23[轻工技术与工程]