检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《今日电子》2008年第10期119-119,共1页Electronic Products
摘 要:ACuPLANE铜阻挡层CMP解决方案是面向高级Cu/lowk材料互连应用的产品。ACuPLANE系统通过优化研磨垫和研磨液的组合性能,使缺陷率降低了一个数量级,同时还赋予客户更大的控制力,帮助客户最大限度减少金属和电介质的损耗。此外,ACuPLANE系统能够显着改善研磨后整个品圆表面的形貌,并能降低晶圆上的应力以避免多孔的超低介电常数(ultra low—k)材质薄膜表面出现凹陷、腐蚀和脱层现象。
关 键 词:CMP 阻挡层 超低介电常数 铜 薄膜表面 研磨液 组合性能 数量级
分 类 号:TN305[电子电信—物理电子学] TN405.97
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