检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:刘俊标[1] 方光荣[1] 靳鹏云[1] 薛虹[1] 张福安[1] 顾文琪[1]
出 处:《电子工业专用设备》2008年第10期10-13,共4页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:基于扫描电镜(SEM)的纳米级电子束曝光系统能够以较低成本满足科研单位对纳米加工设备的需求。在电子束曝光系统中,需要快速束闸控制电子束通断以实现纳米图像的多场曝光。从安装位置、机械结构和驱动器等方面讨论快速束闸的设计。Nanometer E-beam lithography based on SEM can meet the need of nanofabrication re search and design activities at low price. Fast beam blanker is needed when a nano-pattern with more one writing field in E-beam lithography. This paper presented the design of fast beam blanker from the placing position, structure and its driver with examples.
分 类 号:TN305.9[电子电信—物理电子学]
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