检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第四十八研究所,湖南长沙410111
出 处:《电子工业专用设备》2010年第7期5-8,51,共5页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:针对大角度离子注入机中的颗粒污染进行了分析和探讨,着重描叙了颗粒的产生,对注入掺杂的影响;介绍了颗粒的测量和监控;重点列出了如何从设计上减少颗粒污染的产生途径以及生产设备怎样预防颗粒污染。This paper analyses and inquires into the particulate contamination of the large tilt ion implanter,gives an account of the particulate's production for important and how to influence the dose doping;introduces how to measure and monitor the particulate;In particular,lists how to decrease the route for produce to the particulate contamination from design and the equipment for production how to prevent the particulate contamination.
关 键 词:大角度离子注入机 颗粒污染 产生 注入掺杂 预防
分 类 号:TN307[电子电信—物理电子学]
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