基于March C+改进算法的MBIST设计  

An Improved Design of MBIST Based on March C+

作　　者：申志飞[1] 梅春雷[1] 易茂祥[1] 闫涛[1] 阳玉才[1] 

机构地区：[1]合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230009

出　　处：《电子科技》2011年第10期67-70,共4页Electronic Science and Technology

基　　金：安徽省教育厅自然科学重点基金资助项目(No.KJ2010A280)

摘　　要：针对SRAM内建自测试(MBIST),介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C+算法,在深入理解March C+算法的基础上对其提出改进,以此提高MBIST的故障覆盖率。并且利用自顶向下设计方法,Verilog HDl设计语言、设计工具等设计MBIST电路及仿真验证,证明了本设计的正确性和可行性。Several common algorithms for BIST of SRAM are introduced,especially the algorithm based on March C＋.An improvement is proposed to enhance the fault coverage of MBIST.The most popular design method,top-down design,and the most commonly used IC design language,Verilog HDL,are adopted to design the MBIST circuit.Force-release sentence supported by Verilog HDL is used to conduct simulation verification.

关 键 词：MBIST IC设计 MARCH C+ VERILOG HDL 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]