端粒、隐性嵌合体、杂合性丢失与多基因遗传病  

作　　者：胡云清[1] 邹嵘[2] 

机构地区：[1]佳木斯大学附属一院儿科,黑龙江佳木斯154002 [2]哈尔滨医科大学生物教研室,黑龙江哈尔滨150086

出　　处：《国外医学（遗传学分册）》2000年第1期48-49,共2页Foreign Medical Sciences(Section of Genetics )

摘　　要：端粒的长度和耗损速度是决定细胞复制潜力的两个重要因素 ,端粒的耗损不但引发细胞衰老、杂合性丢失 ,而且导致致病等位基因的表达。多基因遗传病的发病决定于多种致病基因的遗传率和端粒的耗损量。

关 键 词：端粒 隐性嵌合体 多基因遗传病 杂合性丢失 

分 类 号：R596[医药卫生—内科学]