胡云清

作品数：1被引量：1H指数：1
导出分析报告
供职机构：佳木斯大学更多>>
发文主题：多基因遗传病端粒杂合性丢失更多>>
发文领域：医药卫生更多>>
发文期刊：更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-1
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
端粒、隐性嵌合体、杂合性丢失与多基因遗传病被引量：1
《国外医学（遗传学分册）》2000年第1期48-49,共2页胡云清 邹嵘 
端粒的长度和耗损速度是决定细胞复制潜力的两个重要因素 ,端粒的耗损不但引发细胞衰老、杂合性丢失 ,而且导致致病等位基因的表达。多基因遗传病的发病决定于多种致病基因的遗传率和端粒的耗损量。
关键词：端粒 隐性嵌合体 多基因遗传病 杂合性丢失 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部