Mg注入非极性a面GaN退火温度的研究  

Study of Mg-doped Nonpolar a-plane GaN Films Annealing Temperature

作　　者：杨扬[1] 李培咸[1] 周小伟[1] 贾文博[1] 赵晓云[1] 

机构地区：[1]西安电子科技大学 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,陕西西安710071

出　　处：《电子科技》2013年第1期12-15,共4页Electronic Science and Technology

摘　　要：非极性GaN材料解决了传统GaN材料中的极化现象,具有较好的应用前景。用金属有机物化学气相沉积方法,在r面蓝宝石上生长了Mg注入非极性a面GaN薄膜,并选取650℃、750℃、850℃这3个温度对Mg注入GaN薄膜进行退火温度研究。用原子力显微镜、光致发光谱、拉曼谱研究了材料的表面形貌、光学性质以及面内应力。结果表明,在750℃退火时效果较好。The nonpolar GaN materials solve the polarization of conventional GaN materials, and thus have a good prospect of application. Mg-dopoed nonpolar a-plane GaN film is grown on r-plane sapphire by metal organic chemical vapor deposition method, and three temperatures of 650 ℃, 750 ℃ and 850 ℃ are selected to study the annealing temperature of Mg-doped nonpolar GaN films. With an atomic force microscope （ AFM ） , photolumines- cence spectroscopy （PL） and Raman spectra （Raman） , the surface morphology of the material, optical properties, and surface stress are studied. Best results are obtained when annealed at 750 ℃.

关 键 词：非极性 氮化镓 原子力显微镜 光致发光谱 拉曼谱 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学] O484[理学—固体物理]