随机延迟微分方程Heun方法的T-稳定性  

T-stability of Heun method for solving stochastic differential delay equations

作　　者：彭虎[1] 朱晓临[1] 

机构地区：[1]合肥工业大学数学学院,安徽合肥230009

出　　处：《合肥工业大学学报（自然科学版）》2014年第5期636-640,共5页Journal of Hefei University of Technology：Natural Science

基　　金：国家自然科学基金资助项目(61272024);第38批留学回国人员科研启动基金资助项目(2010JYLH0322);安徽省自然科学基金资助项目(11040606M06)

摘　　要：文章研究了求解随机延迟微分方程的Heun方法的T-稳定性,针对2类线性随机延迟微分试验方程,给出了相应Heun方法的2个T-稳定性条件。数值试验验证了该理论结果的正确性。The T-stability of the Heun method for solving stochastic differential delay equations is studied.Two T-stability conditions of the Heun method are obtained by applying the Heun method to two kinds of linear test stochastic differential delay equations respectively.The numerical tests verify the theoretical results proposed.

关 键 词：随机延迟微分方程 Heun方法 T-稳定性 线性随机延迟微分试验方程 

分 类 号：O211.63[理学—概率论与数理统计] O241.8[理学—数学]