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作 者:刘夏冰[1] 臧岚[1] 朱顺明[1] 程雪梅[1] 韩平[1] 罗志云[1] 郑有炓[1]
机构地区:[1]南京大学物理系,南京210093
出 处:《高技术通讯》2001年第12期84-86,共3页Chinese High Technology Letters
基 金:国家自然科学基金;教育部博士后基金资助项目
摘 要:报道了Si基Si1 x yGexCy 合金生长中C对Ge组分和生长速率的抑制作用 ,提出一个Si、Ge、C原子的排列构型 ,从理论上给出了C对Ge组分的抑制度和Ge/C原子比的关系 ,并指出在富Ge情况下C对Ge的抑制作用会趋向于饱和。The suppressive effects of C in the growth of Ge-rich Si 1-x-y Ge xC y alloys on Si (100) substrates. On Ge content and growth rate of the alloys are reported first. A possible mechanism for the suppressive effects is proposed. After the calculations of atomic configuration based on a reasonable hypothesis, the dependence of the suppression degree on Ge/C atom ratio was obtained. A tendency for the suppressive effect to the full extent will apear with increasing Ge concentration in the growth of Si 1-x-y Ge xC y alloys.
关 键 词:集成电路 生长速率 光电功能材料 SI1-X-YGEXCY 硅基 原子排列 抑制作用 硅锗碳三元化合物 分子束外延生长
分 类 号:TN304.0[电子电信—物理电子学]
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