应用基因组杂交、单核苷酸芯片及二代测序技术开展植入前染色体异常诊断  

作　　者：范俊梅[1] 李娜[2] 刘忠宇[1] 马慜悦[1] 王辉[1,3] 舒军萍[1] 姚元庆[1] 

机构地区：[1]中国人民解放军总医院妇产科,北京100853 [2]第四军医大学附属唐都医院妇产科,陕西西安710038 [3]石景山医院妇产科,北京100043

出　　处：《中国实用妇科与产科杂志》2014年第7期565-570,共6页Chinese Journal of Practical Gynecology and Obstetrics

基　　金：全军"十二五"重点项目(BWS11J058)

摘　　要：流产是导致妊娠失败的最常见原因，其中因染色体异常导致的流产占早期自然流产的一半。胚胎染色体异常一部分是由于胚胎发育异常，一部分与遗传相关。我国普通人群中染色体异常的发生率为0.5%~1.0%，而在有不良孕产史的患者中发生率则高达2%~10%。随着辅助生殖技术的发展，体外受精-胚胎移植（IVF-ET）的临床妊娠率有了显著提高，但胚胎着床率却维持在20%左右，其中染色体异常是造成人类胚胎低着床率和早期妊娠丢失的一个很重要原因。

关 键 词：植入前诊断 染色体异常 ACGH SNParray 二代测序 

分 类 号：R711.6[医药卫生—妇产科学]