检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051
出 处:《电子质量》2017年第6期76-78,89,共4页Electronics Quality
摘 要:由于结构和材料等因素影响,塑封器件中存在一些潜在的缺陷。声学扫描显微镜检查是一种无损检测技术,能有效识别和剔除有潜在缺陷的器件,降低使用风险。该文研究了国内外主要的3类声学扫描显微镜检查标准,重点研究了国内最常用的GJB 4027A-2006和正在编制的GB/T 4937.35-XXXX,指出了其中存在的问题。Some latent defects existed in PEM because of its structure and materials.SAM as a non-destructive test technology can identify and eliminate latent defective devices to reduce use risk.Three main kinds of SAM standards at home and abroad are studied in this paper,especially GJB 4027A-2206 most use in China and GB/T 4937.35-XXXX establishing,there problems are pointed out.
分 类 号:TN40[电子电信—微电子学与固体电子学]
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