宋玉玺

作品数：3被引量：8H指数：1
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供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
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国内外塑封器件声扫试验标准现状及问题被引量：1
《电子质量》2017年第6期76-78,89,共4页赵海龙 裴选 彭浩 宋玉玺 
由于结构和材料等因素影响,塑封器件中存在一些潜在的缺陷。声学扫描显微镜检查是一种无损检测技术,能有效识别和剔除有潜在缺陷的器件,降低使用风险。该文研究了国内外主要的3类声学扫描显微镜检查标准,重点研究了国内最常用的GJB 4027...
关键词：塑封器件 声学扫描显微镜检查 试验标准 现状 
高可靠领域中应用塑封器件的有效评价被引量：6
《半导体技术》2014年第4期305-308,314,共5页李巍 宋玉玺 童亮 
介绍了塑封器件的优缺点以及发展情况,针对塑封半导体器件本身在材料、结构和工艺等方面的特点,对塑封器件的失效模式和在试验中暴露的问题进行探讨,针对塑封器件的温度适应性、密封性、工艺控制及使用长期可靠性方面制定了相应的质量...
关键词：塑封器件(PEM) 高可靠性 失效模式 评价 方案 
粗检漏试验标准问题的研究及建议被引量：1
《半导体技术》2010年第11期1099-1101,共3页宋玉玺 李巍 
有些外形较小或内腔腔体体积较小并且检漏合格的电子产品,进行水汽含量测定时有时会出现样品水汽含量超标现象。为证明现行国家标准中粗检漏试验方法(高温氟油加压检漏法)会对产品出现误判的问题,通过一系列试验和研究,证明了外形较小...
关键词：粗检漏 干燥时间 标准 水汽含量 误判 
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