童亮

作品数：4被引量：11H指数：2
导出分析报告
供职机构：国家半导体器件质量监督检验中心更多>>
发文主题：可靠性加速寿命试验微波功率晶体管PEM高可靠性更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《半导体技术》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-4
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
高可靠领域中应用塑封器件的有效评价被引量：6
《半导体技术》2014年第4期305-308,314,共5页李巍 宋玉玺 童亮 
介绍了塑封器件的优缺点以及发展情况,针对塑封半导体器件本身在材料、结构和工艺等方面的特点,对塑封器件的失效模式和在试验中暴露的问题进行探讨,针对塑封器件的温度适应性、密封性、工艺控制及使用长期可靠性方面制定了相应的质量...
关键词：塑封器件(PEM) 高可靠性 失效模式 评价 方案 
S波段硅微波功率晶体管的加速寿命试验
《半导体技术》2012年第4期321-325,共5页童亮 彭浩 高金环 黄杰 
为了在尽量短的时间内对S波段硅微波功率晶体管的长期可靠性进行研究,依据温度应力阿列尼乌斯(Arrhenius)模型,进行了两种S波段硅微波功率晶体管的可靠性寿命评价试验。试验采用步进应力加速寿命试验摸底,找出了最高试验应力水平,并根...
关键词：硅微波功率晶体管 加速寿命试验 阿列尼乌斯模型 可靠性 S波段 
Si微波功率晶体管加速寿命试验夹具的设计
《半导体技术》2011年第8期639-642,650,共5页童亮 彭浩 高金环 黄杰 
温度应力的加速寿命试验结果与所用夹具的耐温性及壳温的精确测量与控制直接相关。通过大量研究,发现一体式夹具在试验壳温提高到某一值时性能迅速劣化,因此设计符合高温下使用的分离式夹具是加速寿命试验顺利进行的必要条件。提供了两...
关键词：加速寿命试验 可靠性 试验夹具 Si微波功率管 步进应力试验 
国产半导体器件长期贮存试验研究被引量：5
《半导体技术》2010年第8期800-802,共3页高兆丰 童亮 高金环 徐立生 
分析了在北方实验室条件下,贮存25年的国产商用高频小功率晶体管的特性与可靠性,通过对10批共1 460只器件的试验、检测,并与25年前的原始数据进行对比分析,发现了贮存器件存在直流放大倍数(HFE)退化、内引线开路、外引线可焊性失效三种...
关键词：长期贮存 可靠性 失效率 可焊性 水汽含量 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部