李巍

作品数：2被引量：7H指数：1
导出分析报告
供职机构：国家半导体器件质量监督检验中心更多>>
发文主题：PEM高可靠性高可靠塑封器件失效模式更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《半导体技术》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-2
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
高可靠领域中应用塑封器件的有效评价被引量：6
《半导体技术》2014年第4期305-308,314,共5页李巍 宋玉玺 童亮 
介绍了塑封器件的优缺点以及发展情况,针对塑封半导体器件本身在材料、结构和工艺等方面的特点,对塑封器件的失效模式和在试验中暴露的问题进行探讨,针对塑封器件的温度适应性、密封性、工艺控制及使用长期可靠性方面制定了相应的质量...
关键词：塑封器件(PEM) 高可靠性 失效模式 评价 方案 
粗检漏试验标准问题的研究及建议被引量：1
《半导体技术》2010年第11期1099-1101,共3页宋玉玺 李巍 
有些外形较小或内腔腔体体积较小并且检漏合格的电子产品,进行水汽含量测定时有时会出现样品水汽含量超标现象。为证明现行国家标准中粗检漏试验方法(高温氟油加压检漏法)会对产品出现误判的问题,通过一系列试验和研究,证明了外形较小...
关键词：粗检漏 干燥时间 标准 水汽含量 误判 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部