检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]山东大学晶体材料国家重点实验室,山东济南250100
出 处:《材料科学与工程学报》2003年第2期274-278,共5页Journal of Materials Science and Engineering
基 金:国家杰出青年科学基金资助项目 (60 0 2 540 9); 863资助项目 (2 0 0 1AA31 1 0 8)
摘 要:本文综述了国际上SiC单晶生长的发展历史及现状。从其结构特点生长方法的选择 。This paper reviewed the developments and research progress on SiC crystal growth.Structural characteristics,growth methods,problems existing in the growth process and crystal defects are introduced.
关 键 词:SIC单晶 碳化硅 宽禁带半导体 晶体生长 气相生长 晶体缺陷
分 类 号:TN304.2[电子电信—物理电子学]
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