教育部“新世纪优秀人才支持计划”(NCET-04-0926)

作品数：1被引量：2H指数：1
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应用α源评估静态存储器的软错误被引量：2
《原子能科学技术》2006年第B09期192-195,共4页贺朝会 杨秀培 张卫卫 褚俊 任学明 夏春梅 王宏全 肖江波 李晓林 
教育部新世纪优秀人才支持计划资助项目（NCET-04-0926）
存储器的软错误直接关系到产品的可靠性，为比较3种器件的抗软错误能力，实验测量了3种静态存储器（SRAM）的单粒子翻转错误数，计算了单粒子翻转截面和失效率。从单粒子翻转截面角度讲，A166M器件抗α粒子的能力最好，其次为B166M，最...
关键词：Α源 静态存储器 软错误 
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