国家科技基础性工作专项(2002DEA20014)

作品数：1被引量：5H指数：1
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阿伏加德罗常数测量中单晶硅密度的绝对测量被引量：5
《计量学报》2008年第3期211-215,共5页罗志勇 杨丽峰 顾英姿 郭立功 丁京安 陈朝晖 
科技部科技基础性工作专项(2002DEA20014)
基于改进型五幅算法,利用压力扫描原理设计出腔长可变式法-珀标准具和柔性铰链微位移平台,实现了标准具腔长和硅球表面与标准具之间的相移测量,建立了一套技术原理新颖、提高潜力较大的相移法精密测长系统。该测量系统对硅球直径的测量...
关键词：计量学 阿伏加德罗常数 密度基准 五幅算法 单晶硅球 相移法 标准具 
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