倒相器

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外延厚度对CMOS倒相器闩锁特性的影响研究
《微处理机》2017年第5期16-19,共4页邵红 
CMOS电路由于寄生结构的影响,在大电流的情况下,易发生闩锁效应。如有该效应发生,极有可能导致芯片烧毁。一般从电路设计和版图设计两个方面可以减少闩锁效应的产生,同时在工艺方面采取措施可进一步降低闩锁效应,采用外延厚度的控制是...
关键词：外延厚度 闩锁特性 CMOS倒相器 
外延双阱CMOS倒相器的性能及制造工艺
《微处理机》1991年第1期10-17,共8页王印 成勃 谭延军 
本文以倒相器为实例,较详细地介绍3微米设计规则的外延双阱 CMOS 器件,通过理论分析,计算机模拟、工艺实验及参数测试研究,分析阱的注入剂量,阱深和杂质分布的关系,探索工艺参数的优化设计,研究外延双阱 CMOS 倒相器的速度特性和抗闩锁...
关键词：CMOS器件 例相器 性能 外延 双阱 
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