去嵌入

作品数：58被引量：100H指数：6
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是德科技PAM-4测试技术解决方案照亮400G研发前景
《电子测量与仪器学报》2017年第4期565-565,共1页
·行业领先的采样示波器，带宽指标高达100GHz。可用带宽高达140GHz，每个模块支持多达4个通道·高度集成化的PAM-4误码分析仪，支持64GBaud，内置去嵌入、抖动注入和非线性眼图生成，
关键词：测试技术 研发 科技 可用带宽 采样示波器 误码分析仪 高度集成化 去嵌入 
微波多层电路过孔散射参数测量方法被引量：15
《电子测量与仪器学报》2010年第6期555-560,共6页田雨 童玲 
电子测试技术国家重点实验室基础研究基金(编号:6143902)资助项目
过孔属于典型三维不连续结构,是微波多层电路层间互连的重要形式。通过测量获得过孔结构的散射参数是验证相应理论分析和设计方法必不可少的环节。文中提出一种测量过孔散射参数的方法,通过对被测过孔结构的二次加工和夹具的特殊设计,...
关键词：过孔 微波多层电路 散射参数 去嵌入 
SOLT校准法在MMIC去嵌入问题中的应用
《电子测量与仪器学报》2004年第z1期549-552,共4页应子罡 吕昕 高本庆 李拂晓 高建峰 
单片微波集成电路(MMIC)在当今电子业的巨大推动下得到迅速的发展,其中器件测试方法的准确度直接影响到模型库的建立,并进一步关系到产品的成本、周期和监测等问题.传统的MMIC去嵌入方法是基于等效电路模型进行网络参数剥离,随着新的化...
关键词：校准 去嵌入 微波单片集成电路 电感 
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