椭圆偏振光谱

作品数:85被引量:136H指数:6
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GaN薄膜的椭偏光谱研究被引量:1
《半导体技术》2011年第11期821-825,865,共6页余养菁 张斌恩 李孔翌 姜伟 李书平 康俊勇 
国家自然科学基金重点专项(60827004);国家自然科学基金(60776066);国家863计划项目资助项目(2011AA03A110)
采用椭圆偏振光谱法,在1.50~6.50 eV光谱内,研究了在蓝宝石衬底(0001)面上使用金属有机化学气相沉积(MOCVD)的方法制备的非掺杂纤锌矿结构GaN薄膜的光学性质。建立GaN表面层/外延层/缓冲层/衬底四层物理结构模型。与Cauchy和Sellmeier...
关键词:GAN薄膜 椭圆偏振光谱 光学各向异性 色散关系 纤锌矿结构 
椭偏光谱及在离子注入硅损伤研究中的应用
《半导体技术》2000年第5期33-37,共5页阳生红 莫党 
介绍了椭圆偏振光谱(SE)的原理,给出了椭偏仪在离子注入半导体的辐照损伤研究中的应用和局限。研究表明,结合其它分析手段并建立精细的椭偏模型。椭圆偏振光谱能定量测量各层结构的厚度、成分、气孔率和光学常数。
关键词:椭圆偏振光谱 离子注入 半导体 硅损伤 
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