基本参数法

作品数：85被引量：306H指数：10
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X-射线荧光光谱分析基本参数法程序在微型计算机上的移植和应用被引量：1
《分析化学》1994年第10期1037-1040,共4页汪人瑾 丰梁垣 
本文介绍了FLY-FPM X-射线荧光分析基本参数法程序在微型计算机上的移植和应用情况.移植程序采用标准FORTRAN 77程序设计语言编写,适用于IBM PC系列微型计算机.移植程序保留了原程序的所有功能和特点,可以根据需要进行基本参数法、理论...
关键词：X荧光光谱 参数法 计算机 移植 
X-射线荧光光谱分析中偏最小二乘回归技术与基本参数法的研究被引量：10
《分析化学》1992年第9期1074-1077,共4页罗立强 马光祖 吉昂 
将偏最小二乘回归技术(PLS)与X-射线荧光分析中的基本参数法(FP)相结合,编制PLSFP软件,运用熔样技术,可以定量测定地质岩石样品中的十三个主,次量元素,并使准确度提高,模型预测能力增强。模型选择和最佳维数的确定方法是成功的关键。PL...
关键词：基本参数法 X射线 荧光谱 PLS技术 
同位素源激发X-射线荧光分析合金样品的吸收-增强效应的数学校正—基本参数法被引量：2
《分析化学》1992年第4期410-412,共3页高志强 陈坚 
国家自然科学基金
本文叙述了利用基本参数法校正源激发合金元素荧光分析的基体效应的基本原理、基体效应的修正方法。讨论了当激发源的能量比元素的吸收限大很多时,吸收系数的散射修正,利用^(241)Am源激发,测量了铅锡合金和高合金钢样品中各元素的荧光强...
关键词：合金 X射线荧光法 吸收增强效应 
基本参数法在 X 射线荧光光谱分析地质样品中的应用被引量：12
《分析化学》1990年第11期1025-1028,共4页吉昂 袁宁儿 
本文以地质标准样品为研究对象,用粉末压片方法考察了基本参数法和理论a系数对分析结果的影响,并就联机分析时的烧失项的处理、交叉系数的应用,校正曲线回归时的误差加权等对分析结果的影响进行了研究。
关键词：基本参数法 X射线 荧光光谱 地样 
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