4200-SCS

作品数：41被引量：1H指数：1
导出分析报告
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
相关作者：王一帮张建新董金珠梁法国乔玉娥更多>>
相关机构：吉时利仪器公司东北师范大学中国电子科技集团第十三研究所中国科学院更多>>
相关期刊：《电子测量技术》《通用机械》《半导体技术》《电信科学》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

结果分析中...
选择条件：
  • 期刊=电子质量x
共 条 记 录，以下是1-3
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
吉时利仪器推出超快I-V测试模块
《电子质量》2010年第3期28-28,共1页
吉时利仪器公司日前宣布推出新的4225-PMU超快I—V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流，电压测量功能，实现了超宽的电压、电流和上升...
关键词：吉时利仪器公司 测试模块 4200-SCS I-V 波形发生 测试环境 测量功能 时间动态 
吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试、和九槽机架结构
《电子质量》2009年第4期30-31,共2页
吉时利仪器公司宣布对其4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件（KETI）V7．2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库，
关键词：4200-SCS 吉时利仪器公司 太阳能电池 电池测试 机架结构 升级版 交互式软件 软件升级 
用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试
《电子质量》2003年第2期7-9,共3页Keithley Inc 
文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间。
关键词：4200-SCS 超低电流测试 接地 屏蔽 噪声 半导体特性分析系统 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部